TPD3S716-Q1EVM

Texas Instruments
595-TPD3S716-Q1EVM
TPD3S716-Q1EVM

Fabricante:

Descripción:
Herramientas de desarrollo de administración de IC TPD3S716-Q1EVM

En existencias: 2

Existencias:
2 Se puede enviar inmediatamente
Plazo de entrega de fábrica:
12 Semanas Tiempo estimado de producción de fábrica para cantidades superiores a las que se muestran.
Mínimo: 1   Múltiples: 1   Máxima: 5
Precio unitario:
$-.--
Precio ext.:
$-.--
Est. Tarifa:
El envío de este producto es GRATUITO

Precio (USD)

Cantidad Precio unitario
Precio ext.
$117.01 $117.01

Atributo del producto Valor de atributo Seleccionar atributo
Texas Instruments
Categoría de producto: Herramientas de desarrollo de administración de IC
RoHS: N
Evaluation Modules
Power Switch
3.3 V, 5 V
TPD3S716-Q1
TPD3S716
Marca: Texas Instruments
País de ensamblaje: Not Available
País de difusión: Not Available
País de origen: US
Tipo de interfaz: USB
Temperatura de trabajo máxima: + 125 C
Temperatura de trabajo mínima: - 40 C
Tipo de producto: Power Management IC Development Tools
Calificación: AEC-Q100
Cantidad de empaque de fábrica: 1
Subcategoría: Development Tools
Productos encontrados:
Para mostrar productos similares, seleccione al menos una casilla de verificación
Seleccione al menos una de las casillas de verificación anteriores para mostrar productos similares en esta categoría.
Atributos seleccionados: 0

MXHTS:
8473300499
CNHTS:
8473309000
USHTS:
8473301180
TARIC:
8473302000
ECCN:
EAR99

TPD3S716-Q1EVM Evaluation Module (EVM)

Texas Instruments TPD3S716-Q1EVM Evaluation Module (EVM) is designed to help evaluate the TPD3S716-Q1. The TPD3S716-Q1 is a USB 2.0 interface protection with adjustable current limit and short-to-battery protection. Each evaluation module contains four TPD3S716-Q1 devices. One TPD3S716-Q1 (U1) is configured with two USB 2.0 Type-A connectors (USB1 and USB2) for capturing system-level tests. One TPD3S716-Q1 (U2) is configured with four SMA (S1–S4) connectors to allow 4-port analysis with a vector network analyzer. One TPD3S716-Q1 (U3) is configured with test points for striking ESD to the protection pins. U3 is also configured for capturing clamping waveforms using J3 with an oscilloscope during an ESD test. One Texas Instruments TPD3S716-Q1 (U4) is pinned out for device-level tests.